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“IC电磁发射测试系统 依据IEC 61967-3的测试系统－IC扫描仪 ICS103/FLS102/FLS103 10MHz－3GHz”参数说明
| 认证： | CE/UL/UE/CCC | 类型： | LANGER IC扫描仪 ICS103 |
| 品牌： | LANGER IC扫描仪 ICS103 | 测量范围： | 10MHz－3GHz |
| 电源电压： | AC:50/60Hz 1V-220V | 外形尺寸： | CE/UL/UE/CCC |
| 适用范围： | CE/UL/UE/CCC | 型号： | LANGER IEC 61967-3 |
| 规格： | LANGER IEC 61967-3 | 商标： | LANGER |
| 包装： | 全新 |
“IC电磁发射测试系统 依据IEC 61967-3的测试系统－IC扫描仪 ICS103/FLS102/FLS103 10MHz－3GHz”详细介绍
IC电磁发射测试系统
依据IEC 61967-3的测试系统－IC扫描仪
依据IEC 61967-3的测试系统－IC扫描仪
ICS103, FLS102, FLS103 德国LANGER公司开发和生产的三种型号高分辨率电磁兼容扫描仪，能在3线性轴（x,y,z）或者4轴（ 3线性轴：x,y,z和α旋转）运动，分辨率高达5μm，特别适合于集成电路（IC）以及手机等手持终端的电磁干扰扫描。
ICR系列近场微探头，分辨率可达65μm，频率范围覆盖10MHz－3GHz，具有多种分辨率探头。
系统组成
1. ICR探头（近场微探头）
Langer EMV-Technik 生产的ICR系列近场微探头用于测量磁场或电场近场高分辨率和高灵敏度测试。该探头适用于集成电路（IC）和印刷电路板（PCB）的场测量。
2. 电磁兼容扫描仪
电磁兼容扫描仪，是一个模块化设备系统，用于小片电路表面，焊接线，引脚和纤细模块的电场和磁场近场微探针自动测量。
除了近场微探头的支架，该系统还包括一个4轴定位系统用于引导微探头，一个电机控制器通过电缆连接到设备和模块化的软件。该系统通过USB接口与PC和频谱分析仪直接相连。
组成部分：
1） 3线性轴（x,y,z）或者可选4轴（ 3线性轴：x,y,z和α旋转）上的推进器；
2） 测试板TB 1022（接地平面，受试设备（DUT）支架与连接板CB 0706）；
3） 电机控制器以驱动推进器；
4） 频谱分析仪；
5） 电脑用于ChipScan的控制和操作软件；
3. ChipScan软件
软件组成部件操作和控制整个测量配置。设备集中管理和控制。推进器可以用程序或图形化操纵杆进行控制。交互模式下执行测量算法，并且测量结果用三维图形显示。测量数据可以导出，便于应用。
测量算法是基于用户生成的自由可编程扫描的脚本。
配置测量算法是：
－点扫描（ptp扫描）；
－线扫描（连续扫描）；
－表面扫描；
－体积扫描；
详细情况请联系咨询：
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